简介:
电子枪为肖特基热场发射电子枪,STEM 分辨率可以达到0.16nm,可以探测到微量元素,以及材料成分在空间的分布信息,还可以同时得到STEM的明场像和暗场像以及髙角环形暗场像(HAADF)。
用途:
可对金属、陶瓷、半导体、塑料、纳米颗粒等各种材料进行超微结构观察,以及元素成分分析。
电子枪为肖特基热场发射电子枪,STEM 分辨率可以达到0.16nm,可以探测到微量元素,以及材料成分在空间的分布信息,还可以同时得到STEM的明场像和暗场像以及髙角环形暗场像(HAADF)。